试题详情
单项选择题CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）

A、测定斜探头K值

B、测定直探头盲区范围

C、测定斜探头分辨率

D、以上全部

  • A

  • 关注下方微信公众号，在线模考后查看

热门试题