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简答题粉体颗粒粒度测定分析的方法有哪些？并说明原理。
  • （1） 筛分：按照开口直径逐渐降低的顺序将一系列筛网安装在一起，一次操作即可将不同粒度范围的颗粒及其所占的体积或重量百分比的测定完成。适合用于大于37 um的颗粒的表征和分级。
    （2） 沉降法：沉降法测定颗粒尺寸是以Stoke’s方程为基础的。该方程表达了—球形颗粒在层流状态的流体中，自由下降速度与颗粒尺寸的关系。所测得的尺寸为等当stokeˊs直径。沉降法测定颗粒尺寸分布有增值法和累计法两种。依靠重力沉降的方法，一般只能测定＞100 nm的颗粒尺寸，因此在用沉降法测定纳米粉体的颗粒时，需借助于离心沉降法。
    （3） 感应区法：感应区法分两种：电阻变化法和光学方法。电阻变化法用于快速测定电解质溶液里颗粒或液滴的粒
    度，适合测定的颗粒直径范围是0.3到700 um；光学原理测量颗粒的粒度，可以测定的粉体颗粒直径范围是0.3到100 um。
    （4） 吸附方法 ：可以采用低温气体吸附和溶液吸附方法进行粒度测定。它得到的是粉体的总的表面积，可以根据粉体的总表面积来计算平均颗粒尺寸（假定颗粒的形状和气孔数）。
    （5） X射线小角度散射法：小角度X射线是指X射线衍射中倒易点阵原点附近的相干散射现象。散射角ε大约为十分之几度到几度的数量级。可测的颗粒尺寸为几纳米到几十纳米。
    （6） X射线衍射线线宽法：X射线衍射线线宽法测定的是微细晶粒尺寸。同时，这种方法不仅可用于分散颗粒的测定，也可用于晶粒极细的纳米陶瓷的晶粒大小的测定。衍射线宽度与晶粒度的关系可由谢乐公式表示，谢乐公式的适用范围是微晶的尺寸在1－100nm之间。
    （7） 光学显微镜法：可以将显微镜下的微区照片按一定比例放大来测量颗粒尺寸；也可以将图象传输到一个图象处理系统进行半自动或全自动统计计数。光学显微镜测定的颗粒尺寸范围一般大于0.25 um。
    （8） 透射电子显微镜（TEM）：需做成薄片（500nm）或加工成100nm宽的条带，其分辨率大约为3nm。

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