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简答题分别说明双探头K型和串列式探伤的适用范围？它们在探伤方法上有哪些不同？
  • （1）双探头K型它由两个斜探头（常用K1探头）一发一收组成，探头分别置于被探测工件的两个探测面上，适用于上下底面平行、两个面都可作为探测面的工件，且缺陷反射面与探测面垂直的片状缺陷检测；（2）K型探伤方法只能用于上下底面都可作为探测面的工件，两个探头分别置于被探测工件的两个探测面上，探伤时两个探头同时同速纵向移动；串列式探伤与K型探伤方法有所不同，两个探头放置同一探测面上，利用底面反射作用来探测工件中的缺陷。

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