试题详情
简答题扫描透射电子显微镜
  • 既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。象SEM一样,STEM用电子束在样品的表面扫描,但又象TEM,通过电子穿透样品成像。STEM能够获得TEM所不能获得的一些关于样品的特殊信息。STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。
  • 关注下方微信公众号,在线模考后查看

热门试题