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简答题 为测量在硅表面的保护层SiO2的厚度，可将SiO2的表面磨成劈尖状，如图所示，现用波长λ=644.0nm的镉灯垂直照射，一共观察到8根明纹，求SiO2的厚度．
  • 由于SiO2的折射率比空气的大，比Si的小，所以半波损失抵消了，光程差为：δ=2ne.
    第一条明纹在劈尖的棱上，8根明纹只有7个间隔，所以光程差为：δ=7λ.
    SiO2的厚度为：e=7λ/2n=1503（nm）=1.503（μm）.

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