X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量_睦霖题库

判断题X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。

正确答案：正确
答案解析：
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