试题详情
单项选择题GB/T7233-87标准规定;探伤面上进行扫查时,相邻两次扫查应相互重叠为约晶片尺寸的()

A、10%

B、15%

C、20%

D、以上都可以

  • B
  • 关注下方微信公众号,在线模考后查看

热门试题