试题详情
- 单项选择题光激励荧光体中,常掺入()以改变荧光体的结构和物理特性
A、Al3+
B、Eu2+
C、Cu2+
D、TI2+
E、Se2+
- B
关注下方微信公众号,在线模考后查看
热门试题
- X线照射到直接FPD上时,X线光子使非晶
- 多丝正比电离室探测器是()
- 间接DR中,位于FPD顶层的是()
- DR探测器可用的是()
- 关于CR摄影系统的影像板,以下说法不正确
- CR图像与X线成像比较,哪项表述不正确(
- 光激励荧光体中,为改变荧光体的结构和物理
- 透过被照体的X线照射到平板探测器的
- 非晶硒FPD的优点不包括()
- 关于平板探测器的叙述,错误的是()
- CR系统用成像板(IP)来接收X线的模拟
- CR中EDR的中文全称是()
- CR中光激励发光的波长为()
- KonicaCR系统照射量1mR时对应的
- CR系统用成像板(IP)来接收X线
- CR的缺点有()
- FPD的中文全称为()
- CR的图像处理功能,不包括()
- 屏/片系统成像与数字平板X线摄影的共同之
- DR相比于CR()