试题详情
- 简答题介质的散射衰减与()、()和()有关。因此探伤晶粒较粗大的工件时,常常选用较低的()。
- 频率;晶粒直径;各向异性系数;频率
关注下方微信公众号,在线模考后查看
热门试题
- 通常对内差式探头来讲,激励绕组绕于测量绕
- 用间隔为150mm的手持电极在零件中感应
- 进行放射工作的场所必须设置防护措施,其入
- 减少脉冲宽度的途径是提高发射频率,加大探
- 在对厚壁管进行涡流探伤时,为了将内外壁缺
- 按照NB/T47013.3-2015标准
- 在无限长螺线管中,磁场强度是均匀的
- 试件中用以去掉剩磁所需要的外磁场力通常用
- 通用AVG曲线采用的距离是以近场长度为单
- X射线属于()。
- 有关射线机冷却部分的以下说法错误的是()
- 锻件中的一种缺陷白点(又称发裂)实际上是
- 对无损检测的认识的叙述中,下列各条中比较
- 光点
- 涡流检测中的涂层测厚最常见的是利用()效
- 后乳化型渗透探伤时,乳化时间过长最可能造
- 在被检工件上施加显像剂的目的是从缺陷中吸
- 下列哪种设备在目视检测中最不常用()
- 直接用缺陷波高来比较缺陷的大小时,仪器的
- 增感屏主要有工种类型:()