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简答题简述X线头影测量的主要应用？
  • （1） 研究颅面生长发育。
    （2） 牙颌、颅面畸形的诊断分析。
    （3）确定错和畸形的矫治设计。
    （4） 研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化。
    （5） 外科正畸的诊断和矫治设计。
    （6） 下颌功能分析。

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