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简答题一轴晶垂直光轴干涉图怎样测量光性？
  • 利用一轴晶垂直光轴切面干涉图测光性：四个象限为一级灰干涉色时，使用石膏板补色器，从Ⅱ－Ⅳ象限插入，Ⅱ－Ⅳ象限干涉色升高（变兰）为负光性，降低（变黄）为正光性。四个象限出现同心色环时，使用石英楔补色器，以无字端从Ⅱ－Ⅳ象限插入，Ⅱ－Ⅳ象限干涉色环外移，为正光性，干涉色环内移，为负光性。

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