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简答题简述ARMJTAG调试接口结构、电路与功能。
  • ARMJTAG调试接口的结构如图所示。它由测试访问端口TAP（Test Access Port）控制器、旁路（Bypass）寄存器、指令寄存器、数据寄存器以及与JTAG接口兼容的ARM架构处理器组成。处理器的每个引脚都有一个移位寄存单元（边界扫描单元（BSC，Boundary Scan Cell）），它将JTAG电路与处理器核逻辑电路联系起来，同时，隔离了处理器核逻辑电路与芯片引脚。所有边界扫描单元构成了边界扫描寄存器BSR，该寄存器电路仅在进行JTAG测试时有效，在处理器核正常工作时无效。
    （1）JTAG的控制寄存器
    ①测试访问端口TAP控制器对嵌入在ARM处理器核内部的测试功能电路进行访问控制，是一个同步状态机。通过测试模式选择TMS和时钟信号TCK来控制其状态转移，实现IEEE1149.1标准所确定的测试逻辑电路的工作时序。
    ②指令寄存器是串行移位寄存器，通过它可以串行输入执行各种操作的指令。
    ③数据寄存器组是一组串行移位寄存器。操作指令被串行装入由当前指令所选择的数据寄存器，随着操作的进行，测试结果被串行移出。

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