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单项选择题渗碳件渗层出现大量残余奥氏体缺陷的可能产生原因是（）。

A、奥氏体不稳定，奥氏体中碳的含量较低

B、奥氏体不稳定，奥氏体中合金元素的含量较低

C、回火后冷速太快

D、回火不及时，奥氏体热稳定化

  • D

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