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简答题测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
  • 用平行平晶检定千分尺两工作面的平行度，是在白光下以技术光波干涉法进行的。由于在白光下呈现的彩色干涉条纹约为7条，即2μｍ，因此平行平晶与千分尺的工作面楔形量不大于2μｍ，检定时，平行平晶与千分尺两工作面的楔形量不一定是对称分布的，而对于测量上限大于100mm的千分尺，其工作面的平行度在4μｍ以上，所以不能用于平行平晶来检定。

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