试题详情
多项选择题在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。

A、均匀性

B、粒度效应

C、辐射

D、吸收-增强效应

  • B,D

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