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简答题简述粉体颗粒的化学表征方法有哪些？
  • 粉体化学成分确定：
    （1）分析化学方法；
    （2）X射线荧光技术 （XRF）；
    （3）质谱 （MS）；
    （4）中子激活分析（neutron activation analysis）；
    （5）电子微探针 （EPMA）；
    （6）离子微探针 （IPMA）；探针技术在样品内的穿透深度大约是1m。
    表面化学成分：（1）X射线质子发射谱 （XPS）或化学分析电子谱（ESCA）；
    （2）俄歇电子谱 （AES）；
    （3）二次离子质谱 （SIMS）；（4）扫描俄歇电子显微镜 （SAM）；表面分析要求电子束或离子束在样品内的传统深度小于200nm。
    粉体颗粒晶态的表征：
    （1）X射线衍射法（XRD）：基本原理是利用X射线在晶体中的衍射现象必须满足布拉格（Bragg）公式： nλ=2dsinθ
    具体的X射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉末法、衍射仪法等，其中常用于纳米陶瓷的方法为粉末法和衍射仪法。
    （2）电子衍射法（E1ectron Diffraction）
    电子衍射法与X射线法原理相同，遵循劳厄方程或布拉格方程所规定的衍射条件和几何关系。电子衍射法包括以下几种：选区电子衍射、微束电于衍射、高分辨电子衍射、高分散性电子衍射、会聚束电子衍射等。

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