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简答题简述X线头影测量在口腔正畸学中的意义。
  • X线头影测量是测量X线头颅定位照相所得的影像,根据一定解剖标志点用描图纸从X线片上描下头影图迹,描绘出一定的线、角进行手工测量或通过电子计算机进行测量,了解牙、牙合、颌、面硬软组织的结构及其相互关系,从而进一步了解牙颌畸形的深部机制。是口腔正畸、正颌外科及口腔修复等专刊的临床诊断、治疗设计及研究工作的一个重要手段。
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