试题详情
- 简答题 欲测定SiO2的厚度,通常将其磨成图示劈尖状,然后用光的干涉方法测量,若以λ=590nm光垂直入射,看到七条暗纹,且第七条位于N处,问该膜厚为多少。
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已知N处为第七条暗纹,而棱边处对应K=0的暗纹,所以取K=6,得
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