试题详情
- 简答题什么是ARL直读光谱的背景辐射和谱线重叠干扰?
-
1.背景辐射干扰
光谱分析中背景主要由于连续光谱和杂散光所产生。连续光谱的产生起因于黑体辐射、韧致辐射和离子—电子的复合。杂散光效应是由于光谱仪器的缺陷,其光学系统对辐射的散射,使通过非预定途径而 到达接收器(光电倍增管)的任何所不希望的辐射所产生的连续背景。
发射光谱分析中背景辐射干扰,主要是指来自附随物对电弧电极及火焰温度的影响而引起的黑体辐射强度的改变。附随物电离对激发区温度和电子密度的影响而引起电子—离子复合过程中连续光谱辐射强度的变化,以及附随物的强发射线(带)引起的杂散光强度的改变,从而导致分析物表观信号的变化。
2.谱线重叠干扰
谱线重叠干扰是指来自附随物引起饿带状光谱发射和线状光谱发射,以至使这些发射增强或减弱,从而导致谱线重叠引起分析线谱线强度的变化。
3.背景干扰
背景干扰就是指对每一条分析线的谱线强度都必须扣除由于黑体辐射、韧致辐射、电子—离子复合产生的连续光谱及散射光效应所造成的无用信号的干扰。 关注下方微信公众号,在线模考后查看
热门试题
- 如何使用ARL3460/4460直读光谱
- ARL3460直读光谱真空值是多少较为合
- 什么是ARL直读光谱的时间分辨光谱技术(
- ARL3460出现+15V电压报警,怎样
- ARL直读光谱使用的隔膜泵在更换泵膜具体
- ARL3460哪些部件可以用国产的替代?
- 我用的ARL4460的火花源原子发射光谱
- 为什么ARL 3640直读光
- ARL3460的24V电源的电流怎么测?
- ARL负高压板电压的稳定性,负高压板-1
- ARL3460直读光谱,按开始分析键后,
- 请问ARL4460光电直读光谱仪过滤氩气
- ARL3460提示:“S-Alarm
- Spark-DAT是针对金属中的夹杂分析
- ARL3460/4460直读光谱试样激发
- ARL3460直读光谱标准化时漂移系数是
- ARL3460/4460直读光谱在进行试
- 请问ARL4460激发台的碳化钨片到底是
- ARL 3460温度控制板的
- 什么是ARL直读光谱透镜的定位校正原理?