试题详情
简答题X线头影测量的主要应用有哪些？
  • （1）.研究颅面生长发育。
    （2）.牙颌、颅面畸形的诊断分析。
    （3）.确定错合畸形的矫治设计。
    （4）.研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化。
    （5）.外科正畸的诊断和矫治设计。
    （6）.下颌功能分析。

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