试题详情
- 单项选择题保胶皱褶的规格，以下说法正确的为（）。
A、造成背面不良是目视可见不作判定
B、参照样本判定
C、长不作判定
D、造成背面不良是目视可见不可
- D
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- MYLAY偏移：偏移量不可超过0.3mm
- ALS沾UF胶田字格正确的是（）。
- MICmylar偏移的规格，以下说法错误
- MIC溢胶不可影响条码的读取。
- ALS破损侧面破损不作判定。
- 镀金脏污可擦拭需擦拭后，判定OK。
- 保胶皱褶的规格，以下说法正确的为（）。
- ALS胶多不可超过ALS高度的1/2。
- 打拔偏移：不可大于0.65MM。
- Mylar偏移以下说法正确的是（）。
- CC胶少：二极管需被胶完全包裹。
- prox溢胶侧面OK，表面大小0.5MM
- MIC沾锡不可影响条码的读取。
- 打拔偏移不可切到导体。
- 保胶异物的规格，以下说法正确的为（）。
- 镀金粗糙的规格，以下说法正确的为（）。
- 检查过程中不同品目制品可混装。
- 以下说法正确的为（）。
- MIC爬锡不可爬至MIC表面。
- 补材异物导电性的异物OK，毛发、保胶残屑